Оборудование и инжиниринг в сфере неразрушающего контроля и испытаний

Главная/ПРОДУКЦИЯ/ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ/Микроскопы
Каталог оборудования
 Подпишитесь на нашу рассылку!
ИННОВАЦИИ
ОБЗОРЫ
СПЕЦПРЕДЛОЖЕНИЯ

Микроскопы

123
СпискомТаблицей
Поляризационные микроскопы MEIJI TECHNO серии ML9000
Поляризационные микроскопы MEIJI TECHNO серии ML9000
Производитель: Meiji Тechno
Измерительные микроскопы MEIJI TECHNO серии MC
Измерительные микроскопы MEIJI TECHNO серии MC
Производитель: Meiji Тechno
Серия EMF. Стереомикроскопы с фиксированным увеличением
Серия EMF. Стереомикроскопы с фиксированным увеличением
Производитель: Meiji Тechno
Серия EMT. Стереомикроскопы с револьверной сменой увеличения
Серия EMT. Стереомикроскопы с револьверной сменой увеличения
Производитель: Meiji Тechno
Серия EMZ. Стереомикроскопы с функцией плавного увеличения
Серия EMZ. Стереомикроскопы с функцией плавного увеличения
Производитель: Meiji Тechno
IM7000 (M)
IM7000 (M)
Производитель: Meiji Тechno
Моторизованный инвертированный микроскоп отраженного света
RZ (M)
RZ (M)
Производитель: Meiji Тechno
Моторизованный стереомикроскоп
SIAMS Photolab™
SIAMS Photolab™
Производитель: SIAMS
Цифровая фотолаборатория
SIAMS 700
SIAMS 700
Производитель: SIAMS
Промышленный программно-аппаратный комплекс анализа изображений 
123

@Mail.ru

© НПФ АВЭК, 2013 - 2024

620142 Свердловская область, г. Екатеринбург, ул. Степана Разина, д. 95, офис 12

8 (343) 217-63-84

avek@avek.ru

Создание сайта — Медиасайт