Назначение: 

Предназначен для выявления поверхностных и подповерхностных дефектов в изделиях из ферромагнитных материалов с относительной максимальной магнитной проницаемостью не менее 40 магнитопорошковым или магнитолюминисцентным методом. Является современной и более надежной заменой устаревших приборов типа ПМД-70, УНМ-300/2000, МД-12 и др.

Дефектоскоп позволяет контролировать различные по форме детали, сварные швы, внутренние поверхности отверстий, путем намагничивания отдельных контролируемых участков или изделия в целом циркулярным или продольным полем, создаваемым с помощью набора намагничивающих устройств, питаемых импульсами тока (электроконтакты, гибкий кабель), а также постоянным током (электромагнит, соленоид). Дефектоскоп обеспечивает размагничивание деталей после контроля.

- намагничивание стабилизированным током 
- импульсное намагничивание 
- автоматический контроль тока 
- размагничивание